维修级内存条检测工具Ram Stress Test

Ram Stress Test（RST）是一个修理级内存测试工具，可以测试内存有哪一块颗粒损毁，PCB板有没短路或虚焊；Ram Stress Test 能测试SD内存，也能测试DDR内存，是专业的内存修理工具，完全可以取代昂贵的内存测试卡。

说明：

下载后解压然后用UltraISO制作到U盘启动，不依靠任何操作系统，只须BIOS能辨别的内存它都能测试；具体操作请参阅包内的操作说明，包内软件是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。

Ram Stress Test是一款由美国Ultra-X公司开发的内存测试测试测评软件，它以前是专门为内存生产商开发制作的，后来流落到民间，深受广大喜好者们的喜欢！

Ram Stress Test说明：

1、点不亮内存的测试办法——不少内存短路或者颗粒损毁后都不可以点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它（可解决部分点不亮问题）。需要SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去测试坏的那根。

2、发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。
3、程序实行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试CPU的 L2 cache。
4、软件为光盘镜像文件，用刻录机做成成启动光盘（若需要软盘版的请留言说明），用很浅易，电脑只须设定为软、光盘启动，插入制作好的盘即可自动运行。它是一个独立开发的系统，没倚赖任何作业系统，相容于x86系列，只须BIOS认的到的容量都能测！
5、可以测试SD及DDR内存。
6、闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数：0-7代表第1颗粒地区、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒

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